МИКРОСКОП МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ ЛОМО МЕТАМ ЛВ-41
Микроскопы МЕТАМ ЛВ являются новым поколением инвертированных металлографических микроскопов, предназначенных для исследования микроструктуры металлов, сплавов и других непрозрачных объектов в отраженном свете в светлом поле при прямом и косом освещении, в темном поле, в поляризованном свете и по методу дифференциально-интерференционного контраста (ДИК).
Микроскопы применяются в металлографических лабораториях, научно-исследовательских институтах и на предприятиях металлургической, микроэлектронной и машиностроительной промышленности.
В комплект поставки входит набор сеток для определения линейных размеров, площадей отдельных структурных составляющих, протяженности линий границ зерен и раздела фаз, а также для классификации структур по площадям, диаметрам, размерам.
Тринокулярная насадка микроскопа позволяет подключить видеокамеру. Оптимальным вариантом является использование цифровой видеокамеры МС.
Производство: АО "ЛОМО", г. Санкт-Петербург
Таблица характеристик:
Видимое увеличение микроскопа, крат | 50 - 1500 |
---|---|
Визуальная насадка | тринокулярная (светоделение, %: бинокуляр/адаптер 100/0 или 0/100); |
Окуляры, крат | широкопольные 10x/20 и 15x/16 |
Револьверное устройство крепления объективов | пятигнездное, вращение в любом направлении |
Освещение | по Келлеру |
Тип коррекции объективов | планапохроматы, тубус бесконечность |
Объективы: увеличение крат/числовая апертура | 5x/0,17; 10x/0,28; 20x/0,50; 50x/0,85; 100x/0,95 100x/1,3 МИ (в составе МЕТАМ ЛВ-41) |
Модуль ДИК для МЕТАМ ЛВ-41 | с объективами 5x, 10x, 20x |
Источник света | светодиод |
* — Поставляется по дополнительному заказу.
Галерея
Отличительные особенности:
- Применение новых безрефлексных планапохроматических объективов сверхширокого поля без хроматической окраски по контуру и широкоугольных окуляров, что позволяет добиться высокой контрастности изображений исследуемых объектов.
- Применяется метод дифференциально-интерференционного контраста.
- За счет применения растровой осветительной системы повышена равномерность освещенности объекта.
Области применения:
- Металлография
- Криминалистика
- Металлургия
- Микроэлектроника
- Машиностроение